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當前位置:首頁視頻中心IC芯片封裝引腳共面性測試儀PZ-430D品智創思

IC芯片封裝引腳共面性測試儀PZ-430D品智創思

發布時間:2026-09-08點擊次數:63

品智創思PZ-430D共面性測試儀采用固定龍門式三軸運動結構,內部主體框架為花崗巖,可保證穩定的力學結構。被測工件(含托盤)可被放置于玻璃工作臺上,通過有效三維運動控制,疊加3D線掃激光位移傳感器與影像模塊組合式工作模式,可實現對目標產品平面、高度方向尺寸測量。

PZ-430D共面性測試儀,集成微米級高精度的激光線掃3D 測量與視覺影像測量功能,適用于多種封裝類型芯片的焊球和引腳共面性的 微米級測量,如BGA封裝的焊球共面性測量,SOP、QFP、TSSOP等封裝的引腳共面性測量,焊球直徑、引腳寬度、間距測量, 同時也可用于PCB 板及其器件的寬度、高度、位置度、平面度等測量。

通過3D線掃線激光位移傳感器對目標產品表面進行快速、密集點云掃描,采集獲取三維點云坐標信息,并由測量軟件處理生成產品3D圖形,再通過軟件算法提取3D圖形中目標位置點位坐標,包括但不限于:高點、低點、平均點。最后,基于已提取目標位置點位坐標信息,軟件可進一步分析計算得出最終目標尺寸結果,包括但不限于:平面度、共面性、翹曲度、高度、深度、段差。

通過影像功能模塊在目標產品上建立測量基準坐標系,提取并評價分析產品關鍵平面尺寸,包括但不限于:點位坐標、距離、角度、直徑、周長、面積、位置度、平行度、對稱度、同心度、同軸度。

產品特點

采用微米級高精度線激光測量和影像測量相結合,精度高于普通結構光測量;

直接生成高分辨率的三維點云圖,可提取任意點的高度;

兼顧2D 影像測量,可精準測量焊球的直徑和引腳的寬度、間距等;

軟件算法功能,編程方便快捷,測量結果即掃即出;

可支持單一工件測量,也可將工件放置在治具或Tray 盤內進行批量陣列測量;

整機主體框架采用自研龍門大理石結構,保證整機超高精度與持久性;

整機一體化人體工學設計,用戶操作方便舒適。


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